均匀设计的一些新结果

均匀设计是将试验点均匀地散布在其试验范围内的一种试验设计，它具有试验次数少，代表性强等优点，这种优点在试验水平数目很大的情况下尤为突出。这一方法自创建以来，已在我国的医药工业、航天技术、化工、纺织和军事科学等领域中取得了丰硕的成果。
在均匀设计中，偏差是公认的均匀性的有效度量，过去，由于偏差难以精确计算，王元、方开泰提出了一种度量，它等价于近似偏差。用这种方法度量均匀性，当试验点数n较小时，有时会产生较大的误差，这样就难以选到最均匀的设计。以后，丁元、蒋声和陈瑞琛，方开泰和张金廷曾先后提岀一些均匀性准则，由于准则太多，使用者往往难以选择。最近，Bundschuh和朱尧辰给岀了偏差的精确算法，为我们提供了一种在一定的结构下寻找具有最小偏差的生成向量的方法。我们利用它重新给岀了均匀设计的使用表。本文还获得了一批新的均匀设计表，其偏差比王元、方开泰（1981）提岀的表有明显的改进。